Microscope à Force Atomique - Veeco

AFM Multimode

Microscope Multimode équipé d’un contrôleur Nanoscope® IIIa (Veeco, France). Il permet d’utiliser l’ensemble des techniques de microscopie AFM pour évaluer les propriétés de surface d’un échantillon comme sa topographie ou son élasticité. Il peut fonctionner en mode contact ou oscillant, aussi bien dans l’air qu’en milieu liquide. /
Multimode microscope equipped with a Nanoscope® IIIa controller (Veeco, France). It performs the full range of atomic force microscopy techniques to measure surface characteristics like topography or elasticity. It can be used in contact or in oscillating modes both in air and in liquid.